El 2060 XRF Process Analyzer de Metrohm se destaca como la opción ideal entre los espectrómetros de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF). Está diseñado pensando en la calidad y el control de procesos, permitiendo analizar múltiples puntos de muestra y ofreciendo una operación fácil de usar
Beneficios:
- Permite analizar hasta 10 corrientes de muestras en línea mediante XRF
- Análisis rápidos: obtiene resultados en menos de 60 segundos
- Análisis no destructivo de magnesio a uranio en muestras líquidas (z=12 a 92)
- Integración de múltiples técnicas de análisis en una sola plataforma (XRF con titulación y fotometría)
El 2060 XRF Process Analyzer integra un detector de deriva de silicio de alta resolución (SDD) y la tecnología probada Axon™. Con su electrónica especial de ruido ultrabajo, esta tecnología aumenta los conteos de rayos X por segundo (cps), lo que conduce a resultados más rápidos y precisos.
