noviembre 12, 2019

MESA-50 / MESA-7220

MESA-50: Analizador de fluorescencia de rayos X

MESA-7220: Medición de azufre y cloro en productos derivados del petróleo

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MESA-50

HORIBA ha estado vendiendo la serie XGT-WR de analizadores EDXRF durante muchos años, proporcionando mediciones de detección de muestras que contienen elementos peligrosos como Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As para RoHS, ELV y Cl para aplicaciones libres de halógenos .

Los sistemas XGT se usan a diario en todo el mundo. HORIBA ha desarrollado el nuevo analizador MESA-50 EDXRF, basado en su larga experiencia con los requisitos y conocimientos del cliente. MESA-50 proporciona una operación fácil de usar y un buen rendimiento. MESA-50 incluye tres diámetros de análisis, adecuados para cada muestra, desde cables delgados y piezas electrónicas hasta muestras a granel. La combinación del detector SDD y el procesador de pulso digital (DPP) cambia la imagen de EDXRF.

El nuevo MESA-50 de HORIBA apoya la adquisición ecológica; contribuye no solo a las pruebas de cumplimiento de RoHS y ELV de la UE, sino también al trabajo normativo para muchos otros países.

 

MESA-7220

El MESA-7220 se basa en los últimos avances en tecnología de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF). Utiliza una tecnología óptica de rayos X patentada y produce una fuente de rayos X monocromática polarizada. Este enfoque es crítico para que un usuario logre un fondo de ruido ultra bajo para los mejores límites de detección de azufre y cloro. Esto proporciona un excelente rendimiento a altas concentraciones (múltiples niveles de% en peso), análisis simultáneo de múltiples elementos y aplicabilidad en una amplia gama de tipos de muestras, y excelentes capacidades de bajas ppm.

MESA-50

Items BasicosPrincipioEspectrometría de fluorescencia de rayos X dispersiva de energía.
Aplicacion objetivaRoHS, ELV, libre de halógenos
Elementos de medicion13Al – 92U
Tipo de muestraSólido, líquido, en polvo
Generador de rayos XTubo de rayos-xMax 50kV, 0.2mA
Tamaño de irradiación de rayos X1.2mm, 3mm, 7mm (cambio automatico)
Filtro primario de rayos X4 tipos (cambio automatico)
DetectorTipoSDD (Silicon Drift Detector)
Procesador de señalProcesador de pulso digital
Cámara de muestraAtmosferaAire
Observación de la muestraCamara CCD
UtilityOperacionPC (Windows 7)
Fuente de poderAdaptador de AC (100-240V, 50/60Hz)
Beteria

MESA-50

  1. Rápido: el detector de deriva de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporciona una mayor sensibilidad para un verdadero análisis de alto rendimiento.
  2. Pequeño: portátil, de tamaño pequeño, ligero y tiene una fuente de alimentación de batería interna.
  3. Simple: reduzca el trabajo de mantenimiento de rutina (operación libre de LN2). No necesita bombas de vacío. Proceso de medición intuitivo y sencillo para todo tipo de materiales.
  4. Inteligente: interfaces de usuario en inglés / japonés / chino. Herramienta de gestión de datos de Excel
  5. Seguro: no se preocupe por las fugas de rayos X