OmegaScope AFM

Sin interferencia de láser de registro AFM con láser de excitación Raman

• El láser AFM de 1300 nm no interfiere con los láseres de excitación Raman UV, visibles y de infrarrojo cercano más populares (364-830 nm) y elimina cualquier influencia parasitaria en muestras biológicas y fotovoltaicas sensibles a la luz VIS.

Camino directo (debajo del objetivo) al voladizo

• El sistema OmegaScope tiene el AFM y los canales ópticos completamente separados. Dicha independencia no limita la longitud de onda requerida del láser Raman y simplifica mucho todo el ajuste del sistema en comparación con los sistemas en los que el láser AFM pasa por el mismo objetivo de alta apertura que el láser de excitación Raman. El usuario puede reenfocar fácilmente el objetivo de alta apertura sin ningún reajuste adicional de la configuración de láser a voladizo AFM. El diseño del OmegaScope también proporciona mucha más estabilidad AFM y menos sensibilidad a cualquier vibración y ruido acústico.

Ajuste en voladizo fácil, rápido y repetible

• El ajuste del láser de excitación a la punta en voladizo nunca antes había sido tan fácil y rápido debido al diseño fijo del láser AFM. Además, tan pronto como se instala un nuevo voladizo del mismo tipo, se puede encontrar y escanear fácilmente el mismo punto (dentro de unas pocas micras de repetibilidad) en la superficie de la muestra sin ningún paso de búsqueda adicional.

Escaneo rápido

• Las frecuencias de resonancia de escáner> 7kHz en XY y> 15kHz en Z son las más altas en la industria de AFM en la actualidad.
• ¡Los algoritmos de control de escáner optimizados hacen posible escanear mucho más rápido que nunca!

Medición DFM incorporada hecha con PLL

• El modo de microscopía de fuerza dinámica (DFM) viene como la opción estándar del sistema OmegaScope. Un detector de modulación de frecuencia (FM) para este modo está diseñado utilizando el circuito de bucle de bloqueo de fase (PLL) incorporado en el controlador del AIST-NT. El uso de DFM one puede mantener de manera confiable las interacciones mínimas punta-muestra (es decir, operación en el campo de fuerzas atractivas) que pueden parecer muy cruciales para los experimentos exitosos de TERS y microscopía óptica de campo cercano (SNOM).

Opciones de STM, AFM conductivo y SNOM

• Simultáneamente con las mediciones de espectroscopía, OmegaScope puede equiparse con un módulo único, mediante el cual se pueden medir corrientes locales en AFM o STM en tres rangos lineales (1 nA, 100nA y 10 uA). Estos rangos se pueden cambiar dentro del software, donde para cada uno de ellos se puede seleccionar el ancho de banda requerido de 100Hz a 7 kHz. El nivel de ruido del módulo conductor de 60 fA en el rango de medición de hasta 1 nA y láser AFM de 1300 nm solo establece el nuevo estándar para las mediciones de conductividad en el campo de la energía fotovoltaica.
• Además de la flexibilidad excepcional de la plataforma OmegaScope, la opción SNOM basada en el diseño de retroalimentación del diapasón se puede incluir fácilmente. Además de los experimentos estándar de SNOM, puede seguir los clásicos de la nanoóptica, especialmente SNOM sin apertura, con un sistema para imágenes de fluorescencia de campo cercano utilizando una punta de metal iluminada con pulsos de láser de femtosegundos de polarización adecuada.