OmegaScope es una solución llave en mano de última generación que combina óptica y AFM de investigación de rango múltiple de ultra resolución. El OmegaScope AFM es un instrumento de investigación avanzado que proporciona un camino para los investigadores en espectroscopía y fotónica. Está disponible en configuraciones de reflexión que proporcionan acceso óptico directo superior y lateral. La flexibilidad de la plataforma OmegaScope ofrece posibilidades casi infinitas en la correlación de espectroscopias de alta resolución espacial (Raman, fotoluminiscencia, fluorescencia) y modos de imagen AFM.
OmegaScope AFM
OmegaScope es un microscopio de fuerza atómica que combina óptica y AFM de investigación de rango múltiple de ultra resolución

Consultas
SmartSPM Escáner y Base
Rango de escaneo de muestra | 100 µm x 100 µm x 15 µm (± 10%) |
Tipo de escaneo por muestra | No linealidad XY 0.05%; Z no linealidad 0.05% |
Ruido | 0.1 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 200 Hz con sensores de capacitancia encendidos; 0.02 nm RMS en dimensión XY en ancho de banda de 100 Hz con sensores de capacitancia apagados; Sensor de capacitancia RMS <0.04 nm RMS en ancho de banda de 1000 Hz |
Frecuencia de resonancia | XY: 7 kHz (sin carga); Z: 15 kHz (descargado) |
Movimiento X, Y, Z | Control digital de lazo cerrado para ejes X, Y, Z; Alcance motorizado de aproximación Z 18 mm |
Tamaño de la muestra | Máximo 40 x 50 mm, 15 mm de espesor |
Posicionamiento de la muestra | Rango de posicionamiento de muestra motorizado 5 x 5 mm |
Resolución de posicionamiento | 1 µm |
Cabezal AFM HE002
Longitud de onda láser: | 1300 nm; Sin registro de la influencia del láser en la muestra biológica; Sin registro de la influencia del láser en las mediciones fotovoltaicas . |
Sistema de registro de ruido: | <0.1nm; |
Totalmente motorizado: | 4 motores paso a paso para alineación automática en voladizo y fotodiodo; Acceso libre a la sonda para manipuladores externos y sondas adicionales . |
Acceso óptico simultáneo superior y lateral: | con objetivos planopochromat, objetivo lateral hasta 100x, NA = 0.7 Objetivo superior 10x, NA = 0.28 simultáneamente; |
Modos de medición de SPM
AFM en aire / (líquido opcional); Semicontacto AFM en aire / (líquido opcional); AFM sin contacto; Fase de imagen; Microscopía de fuerza lateral (LFM); Modulación de fuerza; AFM conductivo (opcional); Microscopía de fuerza magnética (MFM); Sonda Kelvin (microscopía de potencial de superficie, SKM, KPFM); Capacitancia y microscopía de fuerza eléctrica (EFM); Medición de curva de fuerza; Microscopía de fuerza de respuesta piezoeléctrica (PFM); Nanolitografía; Nanomanipulación; STM (opcional); Mapeo de fotocorriente (opcional); Mediciones características de voltios-amperios (opcional).
Medición de modos SPM simultáneamente con mediciones Raman
- Contacto AFM en el aire;
- Contacto AFM en líquido (opcional);
- AFM Semicontacto en el aire;
- AFM Semicontacto en líquido (opcional);
- Microscopía de fuerza dinámica (DFM, FM-AFM);
- Microscopía de fuerza de disipación;
- Verdadero AFM sin contacto;
- Imagen de fase;
- Microscopía de fuerza lateral (LFM);
- Modulación de fuerza;
- AFM conductivo (opcional);
- Sonda Kelvin de un solo paso;
- Microscopía de fuerza de respuesta piezoeléctrica (PFM);
- STM (opcional);
- Mapeo de fotocorriente (opcional);
- Microscopía de fuerza cortante con diapasón (ShFM) (opcional);
- Microscopía de fuerza normal con diapasón (opcional).
Modos de espectroscopía
- Raman confocal, imágenes y espectroscopía de fluorescencia y fotoluminiscencia
- Espectroscopía Raman con punta mejorada (TERS) en modos AFM, STM y fuerza de corte
- Tipoluminiscencia con punta mejorada (TEPL)
- Microscopía y espectroscopía de escaneo óptico de campo cercano (NSOM / SNOM).
Unidad conductora de AFM (opcional)
Rango de corriente: 100 fA ÷ 10 µA; 3 rangos de corriente (1 nA, 100 nA y 10 µA) conmutables desde el software.
Acceso óptico
Capacidad para usar simultáneamente el objetivo apocromático del plan superior y lateral: hasta 100x, NA = 0.7 desde la parte superior o lateral; Hasta 20x y 100x simultáneamente.
Escáner de objetivo piezoeléctrico de circuito cerrado para una alineación láser espectroscópica ultra estable a largo plazo: Rango 20 µm x 20 µm x 15 µm; Resolución: 1 nm
Sin interferencia de láser de registro AFM con láser de excitación Raman
- El láser AFM de 1300 nm no interfiere con los láseres de excitación Raman UV, visibles y de infrarrojo cercano más populares (364-830 nm) y elimina cualquier influencia parasitaria en muestras biológicas y fotovoltaicas sensibles a la luz VIS.
Camino directo (debajo del objetivo) al voladizo
- El sistema OmegaScope tiene el AFM y los canales ópticos completamente separados. Dicha independencia no limita la longitud de onda requerida del láser Raman y simplifica mucho todo el ajuste del sistema en comparación con los sistemas en los que el láser AFM pasa por el mismo objetivo de alta apertura que el láser de excitación Raman. El usuario puede reenfocar fácilmente el objetivo de alta apertura sin ningún reajuste adicional de la configuración de láser a voladizo AFM. El diseño del OmegaScope también proporciona mucha más estabilidad AFM y menos sensibilidad a cualquier vibración y ruido acústico.
Ajuste en voladizo fácil, rápido y repetible
- El ajuste del láser de excitación a la punta en voladizo nunca antes había sido tan fácil y rápido debido al diseño fijo del láser AFM. Además, tan pronto como se instala un nuevo voladizo del mismo tipo, se puede encontrar y escanear fácilmente el mismo punto (dentro de unas pocas micras de repetibilidad) en la superficie de la muestra sin ningún paso de búsqueda adicional.
Escaneo rápido
- Las frecuencias de resonancia de escáner> 7kHz en XY y> 15kHz en Z son las más altas en la industria de AFM en la actualidad.
- ¡Los algoritmos de control de escáner optimizados hacen posible escanear mucho más rápido que nunca!
Medición DFM incorporada hecha con PLL
- El modo de microscopía de fuerza dinámica (DFM) viene como la opción estándar del sistema OmegaScope. Un detector de modulación de frecuencia (FM) para este modo está diseñado utilizando el circuito de bucle de bloqueo de fase (PLL) incorporado en el controlador del AIST-NT. El uso de DFM one puede mantener de manera confiable las interacciones mínimas punta-muestra (es decir, operación en el campo de fuerzas atractivas) que pueden parecer muy cruciales para los experimentos exitosos de TERS y microscopía óptica de campo cercano (SNOM).
Opciones de STM, AFM conductivo y SNOM
- Simultáneamente con las mediciones de espectroscopía, OmegaScope puede equiparse con un módulo único, mediante el cual se pueden medir corrientes locales en AFM o STM en tres rangos lineales (1 nA, 100nA y 10 uA). Estos rangos se pueden cambiar dentro del software, donde para cada uno de ellos se puede seleccionar el ancho de banda requerido de 100Hz a 7 kHz. El nivel de ruido del módulo conductor de 60 fA en el rango de medición de hasta 1 nA y láser AFM de 1300 nm solo establece el nuevo estándar para las mediciones de conductividad en el campo de la energía fotovoltaica.
- Además de la flexibilidad excepcional de la plataforma OmegaScope, la opción SNOM basada en el diseño de retroalimentación del diapasón se puede incluir fácilmente. Además de los experimentos estándar de SNOM, puede seguir los clásicos de la nanoóptica, especialmente SNOM sin apertura, con un sistema para imágenes de fluorescencia de campo cercano utilizando una punta de metal iluminada con pulsos de láser de femtosegundos de polarización adecuada.