HORIBA Scientific desarrolla y fabrica espectrómetros ICP-OES de alto rendimiento desde hace más de 35 años.
El nuevo Ultima Expert es una combinación única de máximo rendimiento con herramientas de asistencia integrales diseñadas para simplificar el desarrollo de métodos. Ultima Expert integra un diseño óptico Jobin Yvon de alta eficiencia capaz de lograr un rendimiento óptimo para una gran variedad de tipos de muestras y matrices.
Ultima Expert está impulsado por el poderoso software Analyst que presenta una gran variedad de funcionalidades analíticas para un control y análisis personalizados. La robustez de Ultima Expert lo hace ideal para aplicaciones comunes en minería, fabricación de productos químicos, producción de sal, metales de desgaste en análisis de aceite, petroquímica, producción metalúrgica y refinación de metales preciosos.
¡Obtenga eficiencia con Ultima Expert para sus necesidades más exigentes!
Espectrómetro ICP-OES de alta resolución, alta sensibilidad y alta estabilidad
- Ultima Expert ofrece el rendimiento más alto del mercado y está especialmente diseñado para manejar las aplicaciones más desafiantes.
- Su diseño óptico de alta calidad que integra una rejilla holográfica de alta densidad y una distancia focal de un metro asociada con la característica única Vista de plasma total ofrece la resolución más alta del mercado junto con una alta sensibilidad y estabilidad para las aplicaciones más exigentes.
- Visualización radial y visualización de plasma total que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP-OES
- Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, hasta un 30% de sólidos disueltos
- Cobertura de longitud de onda continua de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o
- longitudes de onda alternativas
- Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de 120-320 nm
- Sistema de rejilla dual opcional, que ofrece una resolución de <6pm hasta 450 nm para matrices ricas en líneas, como elementos de tierras raras, aplicaciones geológicas o de metales preciosos
- Dispositivo HiStab único para lograr una estabilidad excepcional para aplicaciones exigentes
- Detección HDD® patentada que proporciona sub-ppb a nivel de porcentaje en un solo análisis
- Rango dinámico de hasta 10 órdenes de magnitud usando Image
- Policromador opcional de 0,5 mo 1 m para análisis simultáneo
