Sistema totalmente integrado basado en el microscopio de sonda de escaneo de última generación SmartSPM y el microespectrómetro XploRA Raman.
Compacto, totalmente automatizado y fácil de usar, el XploRA Nano concentra el poder de AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, haciendo que la imagen TERS sea una realidad para todos. El sistema probado TERS.
- Plataforma de análisis de muestras múltiples: las mediciones a escala macro, micro y nano se pueden realizar en la misma plataforma.
- Facilidad de uso: operación completamente automatizada, comience a medir en minutos, ¡no horas!
Confocalidad verdadera: alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones de visualización de microscopio completo. - Alta eficiencia de recolección: detección Raman de arriba hacia abajo y oblicua para una resolución y rendimiento óptimos en mediciones tanto localizadas como con punta mejorada (Raman y fotoluminiscencia).
- Alta resolución espectral: rendimiento de resolución espectral final, rejillas múltiples con conmutación automática, análisis de rango espectral amplio para Raman y PL.
- Alta resolución espacial: resolución espectroscópica a nanoescala (hasta 10 nm) a través de espectroscopías ópticas mejoradas con punta (Raman y fotoluminiscencia).
- Multi-técnica / Multi-ambiente: Numerosos modos SPM que incluyen AFM, modos conductivos y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y ambiente electroquímico, junto con mapeo químico a través de TERS / TEPL. El control total de los 2 instrumentos a través de una estación de trabajo y un potente control de software, SPM y espectrómetro se pueden operar simultáneamente o independientemente
- Robustez / Estabilidad: escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, ¡operación lejos de ruidos! Se obtiene un alto rendimiento sin aislamiento activo de vibraciones.
